K&S | 測試部門

測試部門

K&S測試探針為測試座與測試機之間的介面，藉由模擬IC構裝元件，測試探針可檢驗IC構裝和測試座及元件之間的連接是否正確，以及電路的完整性。

測試探針規格：

絕緣材質：

Ultem - Peek - Teflon - Torlon - Vespel - Derlin

接觸材質：

標準鈹銅 (Beryllium Copper)

接觸點電鍍：

30 - 50 微吋硬金 (Hard Gold)

絕緣電阻：

> 10 Mega Ohms (於 DC 500 V下)

運作溫度：

攝氏-40至 +100 度

K&S的測試座測試探針可連接至測試座接點，以利預燒板的電路檢驗。其高品質的最新技術設計及精確製造，保證可靠且耐久。選購的免持型 (Hands-Free)的測試配備可增加生產力，消除插槽可能受到的損壞。我們也可依客戶的要求，製造特定規格的測試探針。

訂購規格:

測試探針系列：

STP

插槽產品編號：

SOCKET PART No.

連接器類型： (T=ITT Cannon, I=IDC, X=非標準型)

T

選購的測試棒支撐架：(S=標準型、H=免持)

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