FAS配接器

K&S的故障分析測試座系列可進行電子束掃描接腳向上 (live bug) 或接腳向下 (dead bug) 的 IC。本系列通常用於測試從主機板上取下之全新或失效的元件。上方開放式的設計可輕易接觸到晶粒。此種測試座掃描可使用既有的腳距和選購配接器。

 

FAS 配接器規格： 配接器系列 FAS 封裝類型 (LCC、PLCC、SSOP、QFP、BGA等) PQFP 接腳數 (xxx) XXX 封裝標準 (E = EIAJ、J = JEDEC、X = 非標準) E0 蓋空間（間距） (i = 吋、M = 公釐) 256 i

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